Ученые: Разработаны температурные карты двумерных кристаллов
Американские ученые, представляющие Университет Иллинойса, во главе с физиком Робертом Клаем разработали температурные карты двумерных кристаллов. Научная работа опубликована на страницах Physical Review Letters.
Квалифицированные физики разработали совершенно новый метод построения температурных карт и измерения постоянного показателя теплового расширения двумерных материалов разных классов. Исследование провели на основе данных электронной микроскопии и спектроскопии характеристических потерь энергии электронами.
В научной работе ученые измерили температуру и коэффициент тепловой шкалы для графена, сульфидов и селенидов, вольфрама и молибдена. Температура воздействия составила от 100 до 600 градусов. В результате пространственное разрешение метода составило около двух нанометров, что является невероятно точной работой. Это позволит предсказывать тепловые свойства двумерных материалов и поможет при разработке электронных устройств, созданных на основе многослойных структур из двумерных кристаллов.
Источник: VistaNews
